Právní předpis byl sestaven k datu 30.12.2007.
Zobrazené znění právního předpisu je účinné od 01.03.2004 do 30.12.2007.
71
XXXXXXXX
xx xxx 3. xxxxx 2004,
xxxxxx xx xxxxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxx sestavy x Epsteinovým xxxxxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx plechů xxx xxxxxxxxxxxxxxx
§1
Xxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxx sestavy x Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxxxxxxxx (xxxx xxx "xxxxxx sestavy"), xxxxxx xxx xxxxxxxxxxx jejich xxxx x xxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxx.
§2
Xxxxxxxxxxxx, xxxxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx, jakož x xxxxxx xxx xxxxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx sestav x xxxxxx xxx xxxxxx ověřování xxxx xxxxxxx v příloze.
§3
Xxxx xxxxxxxx xxxxxx účinnosti xxxx 1. března 2004.
Xxxxxxx:
Xxx. Xxxxx x. x.
Xxxxxxx k xxxxxxxx x. 71/2004 Xx.
1 XXXXXXXXXXXX
1.1 Měřicí xxxxxxx xx xxxxxxx pro xxxxxx xxxxxxxxxxx charakteristiky x měrných ztrát xxxxxx xxx elektrotechniku. Xxxxxx xx x xxxxxxxxx a zařízení xxxxxxxxxx podle xxxxxxx 1 xx 3 x xxxxxxxxxxxxxxx x xxxx 2.
1.2 Xxxxxxxxx xxxxxx xxx Xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxxx k xxxxxx sestavě je xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx vyhlášky a xxxxxxxxx výhradně x xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx.
1.3 Etalonová měřicí xxxxxxx xx měřicí xxxxxxx xxxxx xxxx 1.1, která xx x xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx, xx dlouhodobě xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx.
1.4 Xxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxx jsou xxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx v xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx k xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx.
1.5 Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx je xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx ve vzorku xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx ve xxxxxx.
2 POŽADAVKY XX XXXXXX XXXXXXX
2.1 XXXXXXXXXXXX XXXXXXXXX
Xxxxxx sestava xx xxxxxx x xxxxx, xxxxx musí xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxx
x) Xxxxxxxxx přístroj xxxxxxxxxxxxx x bodu 2.2,
b) xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,1 % nebo menší,
c) xxxxxxxx střední xxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % nebo xxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx měřící x xxxxxx 0,2 % xxxx menší,
e) xxxxxxx xxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,5 % xxxx xxxxx při xxxxxxxxx účinku x xxxxx xxxxxxx, resistance xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxx musí xxx xxxxxxx 5000xxxx xxxxx xxx jeho xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxx amplitudy xxxxxx x xxxxxx 0,5 % nebo xxxxx xx xxxxxxx s xxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxx známou x xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx (xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxx lze xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxx vinutí x s hodnotou xxxxxx s xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx xxxxx s xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx a xxxxxxxxxx střední xxxxxxx),
x) xxxxx xxxxxxxxxxxxx proudu x xxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx x vysokou xxxxxxxxxx napětí a xxxxxxxxx, xxxxxxxx napětí x frekvence xxxxx xxx větší xxx 0,2 % použité xxxxxxx. Xxx xxxxxx xxxxxxx ztrát xxxx xxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx 1,111 ± 1%.
Xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx , které xxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx odpovídat vzorkům, xxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxxx běžně xxxxxx. Xxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx příslušné požadavky xxxx 2.2.
2.2 XXXXXXXXX XXXXXXXXX
2.2.1 Konstrukce
2.2.1.1 Epsteinův xxxxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxxxx xx xxxxxx xx xxxx xxxxx, xx kterých xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxx vzorku xxxxxxxxxxxxx. Xxxxxx xxxxx jsou xxxxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx, xxxx xxxxxxxxxxx průřez s xxxxxxx šířkou 32 xx. Xxxxxxxxxxxx vnitřní xxxxx xx 10 xx. Cívky xxxx xxxxxxxx na xxxxx x isolačního a xxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx, xx tvoří čtverec. Xxxxx xxxxxx čtverce xxxxxxxxx hran xxxxx xxxxxxxxx vzorku xx (220 +1 -0) xx.
Xxxxx xxxxx xx xxx vinutí -. xxxxxx xxxxxxxx vinutí x xxxxxxx sekundární xxxxxx. Xxxx nimi xxxx xxx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxx. Xxxxxx musí xxx xxxxxxxx rovnoměrně xx xxxxx 190 xx, xxxxx cívka xx xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxx. Xxxxxxxx vinutí xxxxx xxxxx xx xxxxxxx xxxxxxx, xxxxxx xx xxxxxxx spojeno xxxxxxxxxx xxxxxx všech xxxxx. Xxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxx, ale xxxxxxx xx 700 xxx xxxxxxx xxx xxxxxxxxx 50 Xx.
X xxxxxxxxxxx xxxxxxx vlivu xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxx xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxxxx:
X1/X12 ≤ 1,25 .10-6 Ω , X2/X22 ≤ 5 .10-6 Ω, (1)
L1/N12 ≤ 2,5 . 10-9 X, L2/N22 ≤ 2,5 . X0-9 H , (2)
xxx X1 x X2 jsou resistence xxxxxxxxxx xxxx. xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X1 a X2 xxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxx. sekundárního vinutí,
N1 x N2 xxxx xxxxxxx xxxxx závitů xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx xxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxx kompenzován s xxxxxxx na xxxxxxxxxx xxx xxxxxxxx. Xx xxx xxxxxx je xxxxxxxxx xxxxxxxx ohraničeného xxxxxxx Epsteinova přístroje xxxxxxxx cívka xxxxxxxx xxxxxxxxxxx, xxxx xxx xx xxxxx x xxxxxx tvořené osami xxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx. Xxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxxxx xxxxx xx xxxxxxxx x xxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxx xxxxxx je xxxxxxxx x xxxxx xx sekundárním vinutím Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx, xxx xxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx byla opačné xxxxxxxx. Xxxxxxxxx hodnoty xxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xx takové, xx xxx xxxxxxxx střídavého xxxxxx primárními xxxxxxxx xxx prázdném Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx (xxxxxx není xxxxxx) xxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxx nespojenými xxxxx xxxxxxxxxxxx vinutí xxxx větší xxx 0,1 % napětí xx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxxxx Epsteinova xxxxxxxxx.
2.2.1.2 Xxxxxxxxx xxxxxx
Xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxxx xxxxxx pro Xxxxxxxxx xxxxxxxx (xxxx jen "xxxxxxxxx xxxxxx"). Tyto xxxxxx musí xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx a hmotností xxxxxxxx rozsah xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx x hmotností xxxxxx, xxxxx jsou xxxxxx xxxxxxxx běžně xxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxxx xxxxx. Pásky xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxx, xxxx xxxxxxxx xxx, xxxxxxxxxxx otřepů x nerovných okrajů x xxxxx xx xx specifikováno, xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxx. Pásky xxxx xxx xxxxx, xxx xxxxx a xxxxxx nečistot. Xxxxx xxxxxx mají xxxxxxxxxxx xxxxxxx:
xxxxx 30 xx ± 0,2 mm, xxxxx xx větší xxxx rovna 280 xx x xxxxx xxxx xxxxx 320 xx.
Xxxxx pásků xxxx xxx xxxxxx s xxxxxxxxx ± 0,5 xx. Xxxx xxxx xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxx xxxxx se xxxxxx xxxxxxxxx, xxxxxx xxxxxxxxxx xxxx xxxx xxxxxx xxxx brány xxxx xxxxxxxxxx směr. Xxxxx'xxxxxx xxxxxxxxxxx z xxxxxxxxxxxxx materiálu xxxx xxx xxxx xxxxx xxx pásku xxxxxxx xx xxxxx válcování xxxxxxx o ± 1°. X xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxx materiálu xxxx xxx xxxxxxxx xxxxx xxxx xxxxx xxx xxxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx ± 5° x xxxxx xxxxxxxx xxxxx xx xxxx xxxxx xxx xxxxx xx směr xxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx ± 5°. Xx xxxxxx pásku xxxx xxx patrný směr xxxxxxxxx. Pásky x xxxxx xxxx xx xxxxx xxxxxxxxx se xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx a xxxxx x delší xxxx xxxxxx xx směr xxxxxxxxx xx vkládají xx zbývajících xxxxx.
Xxxxx xxxxx vzorku xx xxxxxxxxx čtyřmi. Aktivní xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxx 240 x xxx xxxxxx xxxxxx 280 xx.
Xxxxxxxxx xxxxx magnetického xxxxxx xxxxxx lm xx stanovena xxxxxxx 0,94 x. Xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx ma xx xxxx vztahem
ma = m . xx / 4x, (3)
xxx
x xx xxxxx xxxxx xxxxxx v x,
xx je xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx 0,94 m,
m xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x xx,
xx xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x kg.
2.2.1.3 Xxxxxx xxxxxxx
2.2.1.3.1 Xxxxxx xxxxxxx xxx měření měrných xxxxx
Xxxxxx sestava xxx xxxxxx xxxxxxx ztrát xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx na xxxxxxx 1. Magnetovací proud xx pomalu zvyšován, xx se xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx |U2m| xx sekundárním xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx. Xxxxxxx xx xxxxxxxxxxx sleduje xxxxxxx magnetovačího xxxxxx, xxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxx přetížen. Xxxxxxx xxxxxxx napětí xx xxxxxxxxx z xxxxxxxxxx amplitudy xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx podle
IU2mI = 4 ƒ X2 X Ja Ri / (Xx + Xx), (4)
xxx
|X2x| xx xxxxxxx xxxxxxx usměrněného xxxxxx indukovaného x xxxxxxxxxxx xxxxxx ve X,
ƒ je frekvence x Xx,
X2 xx xxxxxxx počet xxxxxx xxxxxxxxxxxx vinutí,
A xx xxxxxx vzorku x x2,
Xx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx polarizace v X,
Xx xx celková xxxxxxxxxx xxxxxxxxx v xxxxxxxxxxx xxxxxx x Ω,
Xx xx xxxxxx xxxxxxxxxx sekundárních xxxxxx Xxxxxxxxxx přístroje x xxxxxxxxxxx xxxxxxxx indukčnosti,
Průřez xxxxxx xx vypočte x rovnice
A = x / (4 x ρx) , (5)
xxx
X je xxxxxx xxxxxx xx čtverečních x,
x xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x xx,
x je délka xxxxx vzorku v x,
ρx je xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx vzorku x xx/x3.
Xxxxxxx 1
Xxxxxxxxx x xxxxxxxxx obvodu xx zkratuje a xxxxxx xx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx na xxxxxxxxxxx hodnotu. Xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxxx indukovaného xxxxxx se xxxxxxx xxxxxxx xxxxx indukovaného xxxxxx, xxxxx xxxx xxx 1,111±1%.
X xxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx Pc xxxxx
Xx = Xx X1 / N2 - (1,111|X2x|)2 / Xx, (6)
xxx
Xx xxxx xxxxxxx vypočtené xxxxxx xxxxxx xx X,
Xx xx xxxxx změřený xxxxxxxxxx xx X,
X1 xx celkový xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx vinutí,
N2 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx
Xx xx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx přístrojů x xxxxxxxxxxx xxxxxx v Ω
|X2x| xx střední xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx v sekundárním xxxxxx ve X.
Xxxxx xxxxxx Ps xx xxxxxxxx xxxxx vztahu
Ps = Xx / xx = (Xx / ma) . (4x / lm), (7)
xxx
Xx jsou xxxxxxx xxxxx ztráty xxxxxx xx X/xx,
x xx xxxxx pásku vzorku x x,
xx je xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx v x (lm = 0,94 m),
m xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x xx,
xx xx xxxxxxx hmotnost xxxxxx x kg,
Pc jsou xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxx ve X.
2.2.1.3.2 Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxx charakteristiky
Měřicí xxxxxxx pro měření xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx je xxxxxxxx xxxxx schématu xx obrázku 2 xxxx xx obrázku 3. Xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx xx xxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxx střídavého xxxxxxxxxxxxx xxxxxx, který xxxxxxxx xxxxxxxx magnetické xxxxxxxxxx xx vzorku, x jeho xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx xxxxxx hodnoty.
Amplituda xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx Xx se xxxx xxxxxxx střední xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx v sekundárním xxxxxx podle vztahu (4).
Xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxx Xx xx určí xxxxxxx amplitudy xxxxxx x xxxxxx primárního xxxxxx X1x, xx xx měřením amplitudy xxxxxx U1a xx xxxxxx R v xxxxxxxx podle obrázku 1. Xxxxx X1x = X1x / X. Amplituda xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx pole xx xxxxxxx x xxxxxxx:
Xx = I1a X1 / xx, (8)
xxx
Xx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxx,
X1x xx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxx proudu v xxxxxx primárního xxxxxx
xx xxxxxxxx efektivní délka xxxxxxxxxxxx xxxxxx vzorku
N1 xx xxxxxxx počet xxxxxx xxxxxxxxxx vinutí Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx
Xxxxxxx 2
Xxxxxxxxxxx xxxx být amplituda xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx pole xxxxxx měřením xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx napětí xxxxxxxxxxxx v sekundárním xxxxxx vzájemné xxxxxxxxxxx XX, xxxxx primární xxxxxx xx xxxxxxxx x xxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx Epsteinova xxxxxxxxx x zapojení xxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxx 3. Při xxxxxxx této metody xx nezbytné xxxxxxxxxxx xxxx časového xxxxxxx xxxxxx UDm osciloskopem, xxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxx dva xxxxxxxx nulovou hodnotou xxxxx xxxxx xxxxxxx. Xxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxx k xxxxxx UDm xxx xxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx a xxxxxxxx, xxx xx znázorněno xx xxxxxxx 3.
Xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx pole xx xxxxxxx x xxxxxxx
Xx = UDm [X1 / ( 4 x XX xx )] . (Xx + Rm) / Rv , (9)
xxx
XX je xxxxxxxx xxxxxxxxxx x obvodu xxxxx xxx. 3 x H
Rv je xxxxxxx xxxxxxxxxx voltmetru xxxxxxx xxxxxxx v Ω,
Xx je resistance xxxxxxxxxxxx vinutí.vzájemné xxxxxxxxxxx XX x Ω,
XXx xx xxxxxxx hodnota xxxxxxxxxxx xxxxxx indukovaného x xxxxxxxxxxx xxxxxx XX.
Xxxxxxx 3
2.2.2 Nápisy x xxxxxx
2.2.2.1 Xxxxxx xxxxxxx
Xxxxxxxxx nápisy x xxxxxx na xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx, která xxxx xxx vypracována x xxxxx musí xxxxxxxxx
x) xxxxxx 'xxxxx xxxxxxx x xxxxxxxx, xxxxx xxxxxxxx k xxxxxx xxxxxxx, x xxxxxxxx xxxxxxx a xxxxxxxxx čísel a xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx x měřicí sestavy xxxxx údajů xxxxxxx,
x) xxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxx zapojení xxx xxxxxxxxx xxxx měření, xxxxxxxxx popisy a xxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx,
x) xxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxx (xxxxxxxxx napájení xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxx magnetické indukce, xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xx základě vzorkovacího xxxxxxxx, využití xxxxxxxx xxxxxxxx),
x) xxxxx a xxxxx xxxx xxxxxxx, xxx kterých xxxx xxxxxx xxxxxxx používána,
e) xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxx,
x) seznam xxxxxxxxxxx xxxxxx,
x) xxxxxxxxxx xxxx xxxxxxxxx listy xxxxxxx, xxxxx xxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx, xxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx xxxx provedeny,
h) xxxxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxx xxx následném xxxxxxx,
x) xxxxx xxxxxxx xxxxx měření x xxxxxxxxxxx vzorky xxxxxxxxxxxxxx x měřicí xxxxxxx.
2.2.2.2 Xxxxxxxxx xxxxxxxx
Xxxxx Epsteinova xxxxxxxxx musí xxx xxxxxxxx. Doporučuje xx xxxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx X, X, X, D. Xx Xxxxxxxxxx přístroji x x dokumentaci xxxxxx xxxxxxx musí xxx xxxxxxx počty xxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx xxxxxx.
2.2.2.3 Xxxxxxxxx xxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxx musí xxx označen xxxxxxxxxx xxxxxx nebo xxxxxxx, x xx stejným, xxxxxxx x xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xx xxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx vzorku.
Všechny xxxxx etalonového xxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx xxx, xxx jejich xxxxxxx x Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx možné xxxxxxx xxxxxxxx.
Xx každému xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx vystaven xxxxxxxxx xxxx, xx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxx:
x) xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx,
x) xxxx x xxx materiálu,
c) xxxxxx xxxxxx,
x) hustota xxxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxx,
x) počet xxxxx vzorku,
g) tloušťka, xxxxx x xxxxx xxxxx vzorku.
Pokud xxxx xxxxxxx xxxxx, xxxxx xxxx xxx uvedeny x xxxxxxxxxx xxxxx, xxxxxxx v xxxxxxxxxxx xxxxx vzorku, xxxxxxxxx xxxxxx nemusí xxx xxxxxxxxx list.
3 SCHVALOVÁNÍ XXXX
3.1 Xxxxxx xxx xxxxxxxxxxx typu
3.1.1 Xxxxxxxxx xxxxxxxxx
Xxxxxxxxxx xxxxx xx základě prostudování xxxxxxxxxxx1) zjišťuje, xxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxxx sestava xxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx, xxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxx podá xxxxx na xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxx.
3.1.2 Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx vzorků xxxxxxxxx
3.1.2.1 Xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx 2 kusy etalonových xxxxxx xxxxxxxxxxxxxx ke xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx. Xxxx vzorky xxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxx x xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx vlastností xxxxxx měřených xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx, x xxxxx rozsahu zkoušky xxxx. Xxxx xxxxxxxxx xxxxxx musí xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxx 2.2.1.2 a 2.2.2.3. K xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxxx kopie xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxx. X xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxx prováděných xxxxxxx xx xxxxxx xxx 3 xxxxxx do xxxx xxxxxxxx.
3.1.2.2 X xxxxxxxxxx vzorků xx xxxxx na xxxxxxxxx xxxxxx sestavě xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxx ztráty x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxx bodu 2.2.1.3. X změřenému xxxxxx xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxx, xxx se xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx z opakovaných xxxxxx.
3.1.2.3 Xxxxxxxx se xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx (xxxxxxxxxxxxxx ke xxxxxxxx xxxxxx sestavě) xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx x xxxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx x %
δxx = (p1i - x2x) . 100 / p2i , (10)
xxx
x1x xx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxx i-té xxxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx (xxxxxxxx měření xxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxx x etalonovými vzorky),
p2i xx aritmetický xxxxx xxxxxx x-xx xxxxxxx xxxxxxx ztrát xxxxxxxxxx xxxxxx sestavou (xxxxxxxx xxxxxx uvedené xx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx).
Xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx měrných xxxxx δxx zjištěné x xxxxx xxxx xxxxxxx musí xxx xxxxx než 3 % xxx xxxxxx x xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx 1,7 X x pro xxxxxx z xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx xxxxxxx xxxxxxxxxx polarizace do 1,5 X.
3.1.2.4 Vypočtou xx xxxxxxxxx rozdíly xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorků (xxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) zkoušenou měřicí xxxxxxxx a xxxxxxxxxx xxxxxx sestavou x % jako xxxxxxxxx xxxxxxxxx vzdálenosti x-xxxx xxxx (Xx ,Hi) xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx etalonovou měřicí xxxxxxxx xxxxx xxxxxxx (11), (12) xxxx (13):
δxx = δXx . 100 / √ {1 + [(Xx / Bi) . (xX / xX)x ]2} = ΔXx . 100 / √ {Xx2 + [Hi . (xX / dH)i]2} (11)
δxx = δXx . 100 / √ {1 + [(Xx / Hi) . (xX / xX)x-1]2} = ΔXx . 100 / √ {Hi2 + [Xx . (dB / xX)x-1]2} (12)
δxx = δXx . |δXx| . 100 / √ (δBi2 + δXx2 ) = ΔBi . |ΔXx| . 100 / √ (ΔBi2 . Xx2 + ΔXx2 . Xx2) (13)
xxx xxxxxxxxx xx xxxxx jen kladné x kde
δBi = (Xx - Xx´) / |Bi| = ΔXx / |Xx|, (14)
ΔXx = Xx - Xx´, (15)
δXx = (Hi - Xx´) / |Hi| = ΔXx / |Xx|, (16)
ΔXx = Xx - Hi´, (17)
(xX / xX)x xx xxxxxxxx tečny xxxxxx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx sestavou x xxxx (Xx, Xx´),
Xx x Xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xxxx. xxxxxxxxxx xxxxxxx x-xxxx bodu xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx,
Xx´ xx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xx charakteristice xxxxxx xxxxxxxxxx měřicí sestavou xxx xxxxxxx Xx,
Xx´ xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx odečtená xx charakteristice xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxx hodnotu Xx.
Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx δai xxxx xxx menší xxx 4 % xxx xxxxxxx xxxx měření xxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxx xxxx xxxxxxx.
3.1.3 Xxxxxxxxx zkoušené xxxxxx xxxxxxx
Xxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxx předepsané xxxxxxxxx xxxxxxxxxxx probíhá x xxxxx užívání xxxxxxxx xxxxxx sestavy. Xxx xxxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxxxx
x) xxxxxx xxxxxxx xxxxx být xxxxxxxxxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxx x xxxxxxx, etalonů x xxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx,
x) uspořádání xxxxxxx x xxxxxxxx xxxx být v xxxxxxx xx schématem xxxxxxxx pro xxxxxxxxx xxxx xxxxxx,
x) xxxxxxx xxxxx dokumentů xxxxxxxxxxxx x xxxx 2.2.2.
3.1.4 Xxxxxxx xxxxxxx vzorků xxxxxxxxx
Xxx zkoušce xxxxxxx xxxxxx xx xxxx xxxxxxxxx xxxxxx (xxxxxxxxxxxx x etalonové xxxxxx xxxxxxx) xxxxxxxxxxxx metrologického xxxxxx x jeho xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xx shodě x xxxxx 3.1.2.
3.1.5 Xxxxxxxxxxx protokolu x xxxxxxxxx zkoušce
Protokol x xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxx x xxxxxxxx xxxxxxx provedených xxxxx xxxx 3.1.2 , 3.1.3 x 3.1.4, xxxxx xxxx mít xxxxxx xxxxxxxx. Xxxx xxxxxxxx popisy, xxxxxxx x xxxxxxxx nutné xxx identifikaci typu x xxxxxxxxx jeho xxxxxx.
3.2 Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx
Xxxxxxxxxxx certifikátu xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx2).
4 XXXXXXXXX
Xxxxxxx x následné ověřování xxxxxxx ze xxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2, 3.1.3. a 3.1.4. Xxxxx xx výsledek xxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxx x měřicí xxxxxxx xxxxxxx požadavky xxxxxxxxx touto vyhláškou, xxxxxxx se xxxxxxxxx xxxx x xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx se xxxxxx úřední xxxxxxx3).
Xxxxxxxxx
Xxxxxx předpis x. 71/2004 Xx. xxxxx xxxxxxxxx xxxx 1.3.2004.
Xx xxx uzávěrky právní xxxxxxx nebyl měněn xx xxxxxxxxx.
Xxxxxx předpis x. 71/2004 Sb. xxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx č. 259/2007 Sb. x xxxxxxxxx xx 1.1.2008.
Xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx právních předpisů x xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxxxxxx, pokud xx xxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxx shora xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxx.
1) §1 xxxx. 2 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx., xxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxx, xx znění vyhlášky x. 344/2002 Sb.
2) §3 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx.
3) §6 xxxxxxxx č. 262/2000 Xx.