Právní předpis byl sestaven k datu 30.12.2007.
Zobrazené znění právního předpisu je účinné od 01.03.2004 do 30.12.2007.
71
XXXXXXXX
xx xxx 3. xxxxx 2004,
xxxxxx xx xxxxxxx požadavky xx měřicí xxxxxxx x Xxxxxxxxxxx přístrojem xxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx plechů pro xxxxxxxxxxxxxxx
§1
Xxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xx měřicí xxxxxxx x Xxxxxxxxxxx přístrojem xxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxxxxxxxx (dále xxx "xxxxxx sestavy"), xxxxxx xxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx a postup xxx jejich xxxxxxxxx.
§2
Xxxxxxxxxxxx, xxxxxxxxx xx měřicí xxxxxxx, xxxxx x xxxxxx při xxxxxxxxxxx xxxx měřicích sestav x xxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx v příloze.
§3
Tato xxxxxxxx xxxxxx účinnosti xxxx 1. xxxxxx 2004.
Xxxxxxx:
Xxx. Urban v. x.
Příloha k xxxxxxxx x. 71/2004 Xx.
1 XXXXXXXXXXXX
1.1 Xxxxxx sestava xx používá pro xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx x xxxxxxx ztrát xxxxxx pro xxxxxxxxxxxxxxx. Xxxxxx xx x xxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxx xxxxxxx 1 xx 3 x specifikovaných v xxxx 2.
1.2 Xxxxxxxxx xxxxxx xxx Epsteinův xxxxxxxx příslušející x xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxx splňující požadavky xxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx měřicí xxxxxxx.
1.3 Xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxx 1.1, xxxxx je x xxxxxx metrologické xxxxxxxxx, je dlouhodobě xxxxxxxxx a prostřednictvím xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx.
1.4 Xxxxx xxxxxx xxxxxx měřené měřicí xxxxxxxx jsou xxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx v xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx k xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx.
1.5 Xxxxxxxxxxx charakteristika xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx xxxxxx xx amplitudě xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxx.
2 XXXXXXXXX XX XXXXXX XXXXXXX
2.1 XXXXXXXXXXXX POŽADAVKY
Měřicí xxxxxxx xx xxxxxx z xxxxx, které xxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxx
x) Xxxxxxxxx přístroj specifikovaný x xxxx 2.2,
x) xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,1 % xxxx xxxxx,
x) xxxxxxxx střední hodnoty xxxxxx s xxxxxx 0,2 % nebo xxxxx,
x) voltmetr efektivní xxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx menší,
e) xxxxxxx xxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,5 % xxxx menší při xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxx xxxxxxx, xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxx 5000xxxx xxxxx xxx jeho xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxx amplitudy měřící x xxxxxx 0,5 % xxxx menší xx xxxxxxx s xxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx proudem x xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx menší (místo xxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx proudem x xxxxxxxxx xxxxxx x x xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % nebo xxxxx xxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxx střední xxxxxxx),
x) xxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx x nízkou výstupní xxxxxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxxxx napětí a xxxxxxxxx, xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxxx xxxxx xxx větší xxx 0,2 % xxxxxxx xxxxxxx. Xxx xxxxxx xxxxxxx ztrát xxxx xxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx 1,111 ± 1%.
Xxxxxxxx xxxxxx sestavy xxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx , které musí xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx, xxxxx jsou xxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx. Xxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx příslušné xxxxxxxxx xxxx 2.2.
2.2 XXXXXXXXX XXXXXXXXX
2.2.1 Xxxxxxxxxx
2.2.1.1 Xxxxxxxxx xxxxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxxxx xx xxxxxx ze xxxx xxxxx, do xxxxxxx xx xxxxxxxx pásky xxxxxxxxxx xxxxxx elektroplechu. Xxxxxx xxxxx xxxx xxxxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxxxx materiálu, xxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxx šířkou 32 xx. Xxxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxx xx 10 xx. Cívky xxxx xxxxxxxx na desce x isolačního a xxxxxxxxxxxxxx materiálu tak, xx tvoří xxxxxxx. Xxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx hran xxxxx xxxxxxxxx vzorku xx (220 +1 -0) xx.
Xxxxx cívka má xxx vinutí -. xxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx. Mezi xxxx xxxx být elektrostatické xxxxxxx. Vinutí musí xxx xxxxxxxx rovnoměrně xx xxxxx 190 xx, každá xxxxx xx xxxxx čtvrtinu xxxxxxxxx počtu závitů. Xxxxxxxx vinutí všech xxxxx je xxxxxxx xxxxxxx, stejně xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxx xxxxx. Xxxxx závitů xxxx xxxxxxxxx, xxx xxxxxxx xx 700 xxx xxxxxxx xxx xxxxxxxxx 50 Hz.
K xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxx musí xxxx xxxxxxxxx splňovat xxxx xxxxxxxx:
X1/X12 ≤ 1,25 .10-6 Ω , X2/X22 ≤ 5 .10-6 Ω, (1)
L1/N12 ≤ 2,5 . 10-9 X, L2/N22 ≤ 2,5 . X0-9 X , (2)
xxx X1 a X2 xxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx resp. xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X1 a X2 xxxx induktance primárního xxxx. xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X1 x N2 xxxx xxxxxxx počty xxxxxx xxxxxxxxxx x sekundárního xxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxx kompenzován s xxxxxxx xx magnetický xxx xxxxxxxx. Za xxx účelem je xxxxxxxxx prostoru xxxxxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx, xxxx xxx xx xxxxx k xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx. Xxxxxxxx vinutí xxxx xxxxxxxxxxx xxxxx je xxxxxxxx v xxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx přístroje a xxxxxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxx x xxxxx xx xxxxxxxxxxx vinutím Xxxxxxxxxx přístroje tak, xxx xxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxx opačné xxxxxxxx. Xxxxxxxxx hodnoty xxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xx xxxxxx, xx xxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx vinutími xxx xxxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx (xxxxxx xxxx xxxxxx) xxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxx nespojenými xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxx xxx 0,1 % xxxxxx xx sekundárním vinutí xxxxxxxxxxxxxxxx Xxxxxxxxxx přístroje.
2.2.1.2 Xxxxxxxxx xxxxxx
Xxxxxxxx měřicí xxxxxxx xxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxx Epsteinův xxxxxxxx (xxxx jen "xxxxxxxxx xxxxxx"). Tyto xxxxxx musí xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxxx rozsah xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx jsou xxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxxx xxxxx. Xxxxx etalonového xxxxxx xxxx být xxxxxx, xxxx stříhány xxx, xxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxx xx xx specifikováno, jsou xxxxxxx zpracovány. Xxxxx xxxx být xxxxx, xxx okují x xxxxxx nečistot. Xxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx:
xxxxx 30 mm ± 0,2 xx, xxxxx xx xxxxx xxxx rovna 280 xx x menší xxxx rovna 320 xx.
Xxxxx xxxxx xxxx xxx xxxxxx x xxxxxxxxx ± 0,5 xx. Když xxxx xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxx kolmo xx xxxxxx válcování, okraje xxxxxxxxxx xxxx nebo xxxxxx xxxx xxxxx xxxx referenční xxxx. Xxxxx'xxxxxx zhotoveného x xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx musí xxx xxxx delší xxx xxxxx xxxxxxx xx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x ± 1°. X xxxxx xxxxxx zhotoveného z xxxxxxxxxxxxxxx materiálu musí xxx xxxxxxxx xxxxx xxxx delší xxx xxxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxx s tolerancí xxxxxxx ± 5° x xxxxx polovina xxxxx xx xxxx xxxxx xxx xxxxx xx směr xxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx ± 5°. Xx xxxxxx xxxxx xxxx xxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxx. Pásky x xxxxx osou xx xxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxx x xxxxx osou xxxxxx na xxxx xxxxxxxxx se xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxx cívek.
Počet xxxxx xxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx být nejméně 240 g xxx xxxxxx xxxxxx 280 xx.
Xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx vzorku xx xx xxxxxxxxx xxxxxxx 0,94 m. Xxxxxxx xxxxxxxx vzorku ma xx xxxx xxxxxxx
xx = x . xx / 4l, (3)
xxx
x je délka xxxxx xxxxxx x x,
xx je xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx 0,94 m,
m xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x kg,
ma xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x kg.
2.2.1.3 Měřicí xxxxxxx
2.2.1.3.1 Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx
Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxx ztrát xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxx 1. Xxxxxxxxxxx xxxxx xx xxxxxx xxxxxxxx, xx se xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx |X2x| xx sekundárním vinutí Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx. Xxxxxxx xx ampérmetrem xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxx xxxxxxxx obvod xxxxxxxxx nebyl xxxxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxx napětí xx vypočtena z xxxxxxxxxx xxxxxxxxx magnetické xxxxxxxxxx xxxxx
XX2xX = 4 ƒ X2 X Xx Ri / (Xx + Xx), (4)
kde
|U2m| je xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx vinutí xx X,
ƒ je xxxxxxxxx x Xx,
X2 xx xxxxxxx počet závitů xxxxxxxxxxxx vinutí,
A je xxxxxx vzorku x x2,
Xx je amplituda xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx x X,
Xx xx celková xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx v Ω,
Xx je součet xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx přístroje a xxxxxxxxxxx vzájemné xxxxxxxxxxx,
Xxxxxx xxxxxx xx xxxxxxx x xxxxxxx
X = x / (4 x ρx) , (5)
xxx
X xx xxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxxxxx x,
x je celková xxxxxxxx xxxxxx x xx,
x je xxxxx xxxxx vzorku x x,
ρx je xxxxxxxxx xxxxxxx materiálu vzorku x kg/m3.
Obrázek 1

Ampérmetr x xxxxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxx a xxxxxx xx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxxxxxx xxxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxx hodnoty x xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx se xxxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx musí xxx 1,111±1%.
Z xxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx Xx xxxxx
Xx = Xx X1 / N2 - (1,111|X2x|)2 / Xx, (6)
xxx
Xx jsou xxxxxxx vypočtené ztráty xxxxxx xx W,
Pm xx xxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xx X,
X1 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx primárního xxxxxx,
X2 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx sekundárního vinutí
Ri xx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx obvodu x Ω
|X2x| xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx x sekundárním xxxxxx xx X.
Xxxxx xxxxxx Ps xx xxxxxxxx xxxxx vztahu
Ps = Xx / xx = (Pc / xx) . (4x / xx), (7)
xxx
Xx xxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxx xx X/xx,
x xx xxxxx pásku xxxxxx x x,
xx xx xxxxxxxx efektivní délka xxxxxxxxxxxx xxxxxx x x (xx = 0,94 m),
m xx xxxxxxx hmotnost xxxxxx x xx,
xx xx xxxxxxx xxxxxxxx vzorku x xx,
Xx xxxx xxxxxxxxx celkové ztráty xxxxxx ve X.
2.2.1.3.2 Xxxxxx sestava pro xxxxxx amplitudové xxxxxxxxxxxxxxx
Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxx 2 xxxx xx xxxxxxx 3. Xxxx měřením xxxxxxxxxxx charakteristiky xx xxxx vzorek xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx vzorku, x jeho pomalým xxxxxxxxx snižováním xx xxxxxx xxxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx Xx xx xxxx xxxxxxx střední xxxxxxx xxxxxxxxxxx napětí xxxxxxxxxxxx x sekundárním xxxxxx xxxxx xxxxxx (4).
Xxxxxxxxx intenzity magnetického xxxx xx xxxxxx Xx xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx proudu x xxxxxx primárního xxxxxx I1a, xx xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx X1x na xxxxxx X x xxxxxxxx podle obrázku 1. Xxxxx I1a = X1x / X. Amplituda xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx pole xx xxxxxxx x xxxxxxx:
Xx = I1a N1 / xx, (8)
xxx
Xx xx amplituda intenzity xxxxxxxxxxxx xxxx ve xxxxxx,
X1x xx amplituda xxxxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx primárního vinutí
lm xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx
X1 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx primárního xxxxxx Xxxxxxxxxx přístroje
Obrázek 2

Xxxxxxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxx střední xxxxxxx usměrněného napětí xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx vzájemné xxxxxxxxxxx XX, jejíž xxxxxxxx xxxxxx xx zapojeno x xxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx v xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxx 3. Xxx xxxxxxx xxxx xxxxxx xx nezbytné xxxxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx XXx xxxxxxxxxxxx, xxxxxx průběh xxxx xxx pouze dva xxxxxxxx nulovou hodnotou xxxxx xxxxx periody. Xxxx xxxxxxxx střední xxxxxxx xxxxx x xxxxxx XXx xxx xxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx Epsteinova xxxxxxxxx x xxxxxxxx, xxx xx xxxxxxxxxx xx xxxxxxx 3.
Amplituda xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx pole xx vypočte z xxxxxxx
Xx = XXx [X1 / ( 4 x XX xx )] . (Xx + Xx) / Rv , (9)
xxx
XX je xxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxx xxxxx obr. 3 x H
Rv xx xxxxxxx resistance xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx x Ω,
Xx xx resistance xxxxxxxxxxxx xxxxxx.xxxxxxxx indukčnosti XX x Ω,
UDm xx střední hodnota xxxxxxxxxxx napětí indukovaného x sekundárním xxxxxx XX.
Xxxxxxx 3

2.2.2 Xxxxxx x značky
2.2.2.1 Měřicí xxxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxx a xxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx dokumentací, která xxxx xxx xxxxxxxxxxx x která musí xxxxxxxxx
x) seznam 'xxxxx xxxxxxx x xxxxxxxx, xxxxx xxxxxxxx x xxxxxx sestavě, x xxxxxxxx xxxxxxx a xxxxxxxxx čísel x xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx x xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxx xxxxxxx,
x) xxxxxxxx x přehledné xxxxxx xxxxxxxx pro xxxxxxxxx druh xxxxxx, xxxxxxxxx xxxxxx a xxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx,
x) xxxxxxx xxxxxx způsobů xxxxxx x xxxxxxxx (xxxxxxxxx napájení xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxx magnetické xxxxxxx, xxxxxx xxxxxx převodníkem xx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx, xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxx),
x) xxxxx x xxxxx xxxx rozsahů, xxx xxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxxx xxxxxxxxxx součástí x xxxxxxx,
x) xxxxxx xxxxxxxxxxx vzorků,
g) kalibrační xxxx ověřovací listy xxxxxxx, která jsou xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx, xxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxx při xxxxxxxxx xxxxxxx,
x) kniha xxxxxxx xxxxx xxxxxx x xxxxxxxxxxx vzorky xxxxxxxxxxxxxx x měřicí xxxxxxx.
2.2.2.2 Xxxxxxxxx xxxxxxxx
Xxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx musí xxx xxxxxxxx. Xxxxxxxxxx xx xxxxxxxx ve xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx X, X, X, X. Xx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x x xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxx xxx uvedeny počty xxxxxx primárního x xxxxxxxxxxxx xxxxxx.
2.2.2.3 Xxxxxxxxx xxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx nebo písmeny, x xx xxxxxxx, xxxxxxx x xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxx na každém xxxxx xxxxxxxxxxx vzorku.
Všechny xxxxx xxxxxxxxxxx vzorku xxxx xxx xxxxxxxx xxx, xxx jejich xxxxxxx v Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxx xxxxxxx způsobem.
Ke xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx, xx xxxxxx xxxx být uvedeno:
a) xxxxxxxxx označení etalonového xxxxxx,
x) xxxx a xxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxx xxxxxx,
x) xxxxxxx xxxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxx,
x) xxxxx xxxxx vzorku,
g) xxxxxxxx, xxxxx a délka xxxxx vzorku.
Pokud xxxx xxxxxxx údaje, xxxxx xxxx xxx xxxxxxx x evidenčním xxxxx, xxxxxxx v kalibračním xxxxx vzorku, etalonový xxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxx xxxx.
3 XXXXXXXXXXX XXXX
3.1 Postup xxx schvalování typu
3.1.1 Xxxxxxxxx xxxxxxxxx
Xxxxxxxxxx orgán xx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx1) xxxxxxxx, xxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx, xxxxxxxx o xxxxxxxxxxx xxxxxxx nebo xxxx xxxxx xx negativní xxxxxxxx xxxxxxx.
3.1.2 Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx
3.1.2.1 Žadatel doručí xxxxxxxxxxxx orgánu nejméně 2 xxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx příslušejících xx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx. Xxxx vzorky xxxx xxxxxxxx svou xxxxxxxxx x xxxxx magnetickými xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx vlastností xxxxxx xxxxxxxx zkoušenou xxxxxx xxxxxxxx, x xxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxx. Xxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx uvedené x xxxx 2.2.1.2 x 2.2.2.3. X xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxxx kopie xxxxxxxxxxx listů vzorků xxxxxxxxx předchozí xxxxxxxxx xxxxx vzorků. X xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxx xxx přiloženy xxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx v xxxxxxxxx prováděných zkoušek xx starší xxx 3 xxxxxx xx xxxx xxxxxxxx.
3.1.2.2 X xxxxxxxxxx xxxxxx se xxxxx na xxxxxxxxx xxxxxx sestavě xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxx xxxxxx x amplitudová charakteristika xxxxx xxxx 2.2.1.3. X xxxxxxxxx xxxxxx xx vystaví xxxxxxxxx xxxx, xxx se xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx.
3.1.2.3 Xxxxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxx měření xxxxxxx xxxxx etalonových xxxxxx (xxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx x xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx x %
δpi = (x1x - x2x) . 100 / p2i , (10)
xxx
x1x xx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxx i-té xxxxxxx měrných xxxxx xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx (xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xx žadatele spolu x xxxxxxxxxxx xxxxxx),
x2x xx aritmetický xxxxx xxxxxx i-té hodnoty xxxxxxx xxxxx etalonovou xxxxxx sestavou (výsledky xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxxxxx kalibračním xxxxx).
Xxxxxxx xxxxxxxxxxx rozdílů xxxxxxx xxxxx δxx xxxxxxxx x xxxxx xxxx xxxxxxx musí xxx xxxxx než 3 % xxx xxxxxx x xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx 1,7 X x xxx xxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx pro hodnoty xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx 1,5 X.
3.1.2.4 Vypočtou xx xxxxxxxxx rozdíly xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx (xxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx v % xxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx vzdálenosti i-tého xxxx (Bi ,Xx) xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx xx charakteristiky xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx podle xxxxxxx (11), (12) nebo (13):
δxx = δBi . 100 / √ {1 + [(Xx / Bi) . (xX / xX)x ]2} = ΔXx . 100 / √ {Xx2 + [Hi . (xX / xX)x]2} (11)
δxx = δXx . 100 / √ {1 + [(Xx / Xx) . (xX / xX)x-1]2} = ΔXx . 100 / √ {Hi2 + [Xx . (xX / dH)i-1]2} (12)
δxx = δXx . |δXx| . 100 / √ (δXx2 + δXx2 ) = ΔBi . |ΔXx| . 100 / √ (ΔBi2 . Xx2 + ΔXx2 . Xx2) (13)
xxx odmocniny xx xxxxx jen xxxxxx x kde
δBi = (Xx - Xx´) / |Xx| = ΔXx / |Bi|, (14)
ΔXx = Bi - Xx´, (15)
δHi = (Hi - Xx´) / |Xx| = ΔHi / |Xx|, (16)
ΔXx = Xx - Hi´, (17)
(xX / xX)x xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxx měřením xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx sestavou v xxxx (Xx, Bi´),
Hi x Xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx magnetického xxxx xxxx. xxxxxxxxxx xxxxxxx x-xxxx bodu xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx,
Xx´ xx hodnota xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxx Xx,
Xx´ xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx odečtená xx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxx Xx.
Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx amplitudové xxxxxxxxxxxxxxx δxx xxxx xxx xxxxx xxx 4 % pro xxxxxxx xxxx měření xxxxxxxxxxxxxx etalonových vzorků x xxxxx xxxx xxxxxxx.
3.1.3 Prohlídka xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx
Xxxxxx prohlídka x xxxxxxxx předepsané xxxxxxxxx dokumentace xxxxxxx x xxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx sestavy. Xxx xxxxxx prohlídce xx xxxxxxxxxx
x) xxxxxx xxxxxxx nesmí být xxxxxxxxxx poškozena,
b) xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxx x xxxxxxx, xxxxxxx x xxxxxxxx uvedených x xxxxxxxxxxx,
x) uspořádání xxxxxxx x xxxxxxxx xxxx být v xxxxxxx se xxxxxxxxx xxxxxxxx xxx příslušný xxxx měření,
d) xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxx 2.2.2.
3.1.4 Xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx
Xxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx se xxxx xxxxxxxxx xxxxxx (xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxx xxxxxx x jeho xxxxxxxxxxx zkoušenou xxxxxx xxxxxxxx xx xxxxx x xxxxx 3.1.2.
3.1.5 Xxxxxxxxxxx protokolu x xxxxxxxxx zkoušce
Protokol o xxxxxxxxx xxxxxxx obsahuje xxxxx x xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2 , 3.1.3 a 3.1.4, xxxxx musí xxx xxxxxx xxxxxxxx. Dále xxxxxxxx popisy, xxxxxxx x xxxxxxxx xxxxx xxx identifikaci xxxx x xxxxxxxxx jeho xxxxxx.
3.2 Xxxxxxxxxx schválení xxxx
Xxxxxxxxxxx certifikátu xxxxxxxxx xxxx stanoví zvláštní xxxxxx xxxxxxx2).
4 OVĚŘOVÁNÍ
Prvotní x xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx ze xxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2, 3.1.3. x 3.1.4. Xxxxx xx xxxxxxxx xxxxx těchto zkoušek xxxxxx x měřicí xxxxxxx xxxxxxx požadavky xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx, xxxxxxx xx xxxxxxxxx xxxx x zkoušená xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxx xxxxxx značkou3).
Xxxxxxxxx
Xxxxxx xxxxxxx x. 71/2004 Xx. xxxxx xxxxxxxxx dnem 1.3.2004.
Xx xxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx měněn xx xxxxxxxxx.
Xxxxxx xxxxxxx x. 71/2004 Sb. xxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx č. 259/2007 Sb. x xxxxxxxxx xx 1.1.2008.
Xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxx x odkazech xxxx xxxxxxxxxxxxx, xxxxx se xxxx xxxxxx derogační xxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxx předpisu.
1) §1 xxxx. 2 vyhlášky x. 262/2000 Xx., xxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxxx a měřeni, xx znění vyhlášky x. 344/2002 Xx.
2) §3 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx.
3) §6 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx.