Animace načítání

Stránka se připravuje...


Na co čekáte? Nečekejte už ani minutu.
Získejte přístup na tento text ještě dnes. Kontaktujte nás a my Vám obratem uděláme nabídku pro Vás přímo na míru.

Právní předpis byl sestaven k datu 30.12.2007.

Zobrazené znění právního předpisu je účinné od 01.03.2004 do 30.12.2007.


Vyhláška, kterou se stanoví požadavky na měiící sestavy s Epsteinovým přístrojem pro měření magnetických vlastností plechů pro elektrotechniku

71/2004 Sb.

71
XXXXXXXX
xx xxx 3. xxxxx 2004,
kterou xx xxxxxxx požadavky xx xxxxxx sestavy x Xxxxxxxxxxx přístrojem xxx měření magnetických xxxxxxxxxx xxxxxx pro xxxxxxxxxxxxxxx
Ministerstvo xxxxxxxx a xxxxxxx xxxxxxx podle §27 xxxxxx x. 505/1990 Xx., o metrologii, xx xxxxx zákona x. 119/2000 Xx. x xxxxxx x. 137/2002 Xx., (xxxx xxx "xxxxx") k xxxxxxxxx §6 xxxx. 2 x §9 xxxx. 1 xxxxxx:
§1
Xxxx xxxxxxxx xxxxxxx požadavky xx xxxxxx xxxxxxx x Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxx xxxxxx magnetických xxxxxxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxxxxxxxx (xxxx xxx "xxxxxx xxxxxxx"), xxxxxx xxx schvalování jejich xxxx a postup xxx xxxxxx xxxxxxxxx.
§2
Xxxxxxxxxxxx, xxxxxxxxx na měřicí xxxxxxx, xxxxx i xxxxxx xxx xxxxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxx jsou xxxxxxx x příloze.
§3
Xxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxx 1. xxxxxx 2004.
Xxxxxxx:
Xxx. Urban x. x.

Xxxxxxx k vyhlášce x. 71/2004 Xx.
1 XXXXXXXXXXXX
1.1 Xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxx xxx xxxxxx amplitudové charakteristiky x xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxxxxxxxx. Xxxxxx se x xxxxxxxxx x zařízení xxxxxxxxxx xxxxx xxxxxxx 1 až 3 x xxxxxxxxxxxxxxx x xxxx 2.
1.2 Etalonový xxxxxx xxx Xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxx požadavky xxxx xxxxxxxx a xxxxxxxxx výhradně k xxxxxxxxxxxx návaznosti xxxxxx xxxxxxx.
1.3 Etalonová měřicí xxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx xxxxx bodu 1.1, xxxxx xx x xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx, je dlouhodobě xxxxxxxxx a xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorků xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx.
1.4 Xxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxx ztráty xxxxxxxxxxxxxxx v xxxxxxx xxxxxx vztažené x xxxxxxx xxxxxxxxx vzorku.
1.5 Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx je xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx xxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxx.
2 XXXXXXXXX XX XXXXXX XXXXXXX
2.1 XXXXXXXXXXXX XXXXXXXXX
Xxxxxx sestava xx skládá x xxxxx, které musí xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxx
x) Xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxxxx x bodu 2.2,
b) xxxxxxx xxxxxxxxx měřící x xxxxxx 0,1 % nebo xxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxxx hodnoty xxxxxx x xxxxxx 0,2 % nebo xxxxx,
x) voltmetr xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx s xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx,
x) měřidlo xxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,5 % xxxx xxxxx xxx xxxxxxxxx xxxxxx a xxxxx faktoru, xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx měřidla xxxxxx musí být xxxxxxx 5000krát xxxxx xxx jeho xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxx amplitudy měřící x chybou 0,5 % xxxx xxxxx xx xxxxxxx x xxxxxxx x vyhovujícím xxxxxxxxx xxxxxxx a xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx (místo xxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx proudem x xxxxxxxxx xxxxxx x x xxxxxxxx xxxxxx s xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx xxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxx xxxxxxx hodnoty),
g) xxxxx xxxxxxxxxxxxx proudu x xxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxxxx napětí x xxxxxxxxx, xxxxxxxx napětí x xxxxxxxxx nesmí xxx xxxxx xxx 0,2 % xxxxxxx xxxxxxx. Xxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxx xxx zajištěn xxxxxxx xxxxx sekundárního xxxxxx 1,111 ± 1%.
Xxxxxxxx xxxxxx sestavy xxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx , xxxxx xxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx, xxxxx jsou měřicí xxxxxxxx xxxxx xxxxxx. Xxxx xxxxxx muší xxxxxxxx příslušné xxxxxxxxx xxxx 2.2.
2.2 XXXXXXXXX XXXXXXXXX
2.2.1 Xxxxxxxxxx
2.2.1.1 Xxxxxxxxx xxxxxxxx
Xxxxxxxxx přístroj xx xxxxxx xx čtyř xxxxx, do xxxxxxx xx vkládají pásky xxxxxxxxxx vzorku xxxxxxxxxxxxx. Xxxxxx cívek jsou xxxxxxxx x tvrdého xxxxxxxxxx xxxxxxxxx, mají xxxxxxxxxxx xxxxxx s xxxxxxx xxxxxx 32 xx. Xxxxxxxxxxxx vnitřní xxxxx xx 10 xx. Cívky xxxx xxxxxxxx na desce x xxxxxxxxxx a xxxxxxxxxxxxxx materiálu xxx, xx xxxxx xxxxxxx. Xxxxx strany čtverce xxxxxxxxx hran pásků xxxxxxxxx xxxxxx je (220 +1 -0) xx.
Xxxxx xxxxx má xxx xxxxxx -. xxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x vnitřní xxxxxxxxxx xxxxxx. Xxxx xxxx xxxx být elektrostatické xxxxxxx. Vinutí xxxx xxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xx délce 190 xx, každá xxxxx xx xxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxx. Xxxxxxxx xxxxxx xxxxx xxxxx je xxxxxxx xxxxxxx, xxxxxx xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxx xxxxx. Xxxxx závitů xxxx xxxxxxxxx, xxx xxxxxxx xx 700 xxx xxxxxxx xxx xxxxxxxxx 50 Xx.
X xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxx impedancí xxxxxx xxxx xxxx xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxxxx:
X1/X12 ≤ 1,25 .10-6 Ω , X2/X22 ≤ 5 .10-6 Ω, (1)
X1/X12 ≤ 2,5 . 10-9 H, X2/X22 ≤ 2,5 . X0-9 X , (2)
xxx X1 a X2 xxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxx. xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X1 x X2 xxxx xxxxxxxxxx primárního xxxx. xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X1 x X2 xxxx xxxxxxx počty xxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx xxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxxxx musí xxx xxxxxxxxxxx s xxxxxxx xx xxxxxxxxxx xxx vzduchem. Za xxx xxxxxx je xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx přístroje xxxxxxxx cívka xxxxxxxx xxxxxxxxxxx, xxxx xxx xx xxxxx x xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxx Xxxxxxxxxx přístroje. Xxxxxxxx vinutí této xxxxxxxxxxx xxxxx je xxxxxxxx x xxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx a xxxxxxxxxx xxxxxx je xxxxxxxx x xxxxx xx sekundárním vinutím Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx, xxx indukovaná napětí x xxxxxx sekundárních xxxxxxxx byla xxxxxx xxxxxxxx. Nastavení xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xx xxxxxx, že xxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxx xxx prázdném Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx (vzorek xxxx xxxxxx) xxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx sekundárních xxxxxx xxxx větší xxx 0,1 % napětí xx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx.
2.2.1.2 Xxxxxxxxx vzorky
Součástí xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxxx xxxxxx pro Xxxxxxxxx xxxxxxxx (xxxx xxx "xxxxxxxxx vzorky"). Xxxx xxxxxx musí xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx magnetických xxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx jsou xxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxx jsou xxxxxxxx x elektrotechnické xxxxx. Xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx musí xxx xxxxxx, jsou xxxxxxxx xxx, xxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx x pokud xx xx xxxxxxxxxxxxx, jsou xxxxxxx xxxxxxxxxx. Xxxxx xxxx xxx xxxxx, xxx xxxxx x xxxxxx xxxxxxxx. Xxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx:
xxxxx 30 mm ± 0,2 xx, xxxxx xx xxxxx xxxx xxxxx 280 xx x menší xxxx xxxxx 320 xx.
Xxxxx xxxxx musí xxx stejná s xxxxxxxxx ± 0,5 xx. Xxxx jsou xxxxx xxxxxxxx rovnoběžně xxxx xxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxx, xxxxxx xxxxxxxxxx xxxx nebo xxxxxx xxxx brány xxxx xxxxxxxxxx xxxx. Xxxxx'xxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxx materiálu xxxx xxx xxxx xxxxx xxx xxxxx odlišný xx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx o ± 1°. X xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxx materiálu musí xxx polovina pásků xxxx xxxxx xxx xxxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxx s xxxxxxxxx xxxxxxx ± 5° x xxxxx polovina xxxxx má směr xxxxx xxx xxxxx xx směr xxxxxxxxx x tolerancí xxxxxxx ± 5°. Xx xxxxxx pásku xxxx xxx xxxxxx směr xxxxxxxxx. Xxxxx s xxxxx osou xx xxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxx do xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxx Epsteinova xxxxxxxxx a pásky x xxxxx xxxx xxxxxx xx xxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxx cívek.
Počet xxxxx xxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorku xxxx xxx xxxxxxx 240 g xxx xxxxxx xxxxxx 280 xx.
Xxxxxxxxx xxxxx magnetického xxxxxx vzorku lm xx xxxxxxxxx dohodou 0,94 m. Xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xx xx dána vztahem
ma = x . xx / 4x, (3)
xxx
x xx xxxxx xxxxx vzorku v x,
xx je xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx 0,94 x,
x xx xxxxxxx xxxxxxxx vzorku x xx,
xx xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x xx.
2.2.1.3 Xxxxxx xxxxxxx
2.2.1.3.1 Xxxxxx sestava xxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx
Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxx ztrát xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx na xxxxxxx 1. Xxxxxxxxxxx xxxxx xx xxxxxx zvyšován, xx se xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx |U2m| xx sekundárním vinutí Xxxxxxxxxx přístroje. Xxxxxxx xx ampérmetrem xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx nebyl xxxxxxxx. Xxxxxxx hodnota napětí xx xxxxxxxxx z xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxx
XX2xX = 4 ƒ X2 X Xx Xx / (Ri + Xx), (4)
xxx
|X2x| xx xxxxxxx hodnota usměrněného xxxxxx indukovaného x xxxxxxxxxxx vinutí xx X,
ƒ xx frekvence x Xx,
X2 xx xxxxxxx počet xxxxxx xxxxxxxxxxxx vinutí,
A xx xxxxxx vzorku x x2,
Xx je xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx x X,
Xx xx celková xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx x Ω,
Xx xx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx a xxxxxxxxxxx vzájemné xxxxxxxxxxx,
Xxxxxx xxxxxx xx xxxxxxx x rovnice
A = x / (4 x ρx) , (5)
xxx
X xx průřez xxxxxx xx xxxxxxxxxxx x,
x je celková xxxxxxxx vzorku x xx,
x xx xxxxx xxxxx xxxxxx x x,
ρx je stanovené xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x xx/x3.
Xxxxxxx 1
Ampérmetr x xxxxxxxxx obvodu xx xxxxxxxx x xxxxxx xx potom xxxxxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxxxxxx xxxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx indukovaného xxxxxx xx stanoví xxxxxxx tvaru xxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx musí xxx 1,111±1%.
X xxxxx xxxxxxxxx se xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx Xx xxxxx
Xx = Pm X1 / X2 - (1,111|X2x|)2 / Xx, (6)
xxx
Xx xxxx xxxxxxx vypočtené xxxxxx xxxxxx xx X,
Xx xx xxxxx změřený xxxxxxxxxx xx W,
N1 xx xxxxxxx počet xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx,
X2 xx celkový xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx
Xx xx xxxxxxx ekvivalentní xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx x Ω
|X2x| je xxxxxxx xxxxxxx usměrněného napětí xxxxxxxxxxxx x sekundárním xxxxxx xx X.
Xxxxx xxxxxx Xx xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx
Xx = Xx / xx = (Xx / xx) . (4x / xx), (7)
xxx
Xx xxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxx vzorku xx X/xx,
x xx xxxxx xxxxx vzorku x m,
lm je xxxxxxxx efektivní xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx x x (xx = 0,94 x),
x xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x xx,
xx xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x xx,
Xx jsou xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxx xx W.
2.2.1.3.2 Xxxxxx xxxxxxx pro xxxxxx amplitudové xxxxxxxxxxxxxxx
Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxx charakteristiky je xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxx 2 xxxx na obrázku 3. Před měřením xxxxxxxxxxx charakteristiky xx xxxx vzorek odmagnetovat xxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx xxxxxxxx nasycené xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx xxxxxx, x xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx snižováním xx xxxxxx hodnoty.
Amplituda xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx Xx se xxxx měřením střední xxxxxxx xxxxxxxxxxx napětí xxxxxxxxxxxx v xxxxxxxxxxx xxxxxx podle vztahu (4).
Xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx vzorku Xx se xxxx xxxxxxx amplitudy xxxxxx x xxxxxx primárního xxxxxx X1x, xx xx xxxxxxx amplitudy xxxxxx U1a xx xxxxxx X v xxxxxxxx xxxxx obrázku 1. Xxxxx X1x = X1x / X. Xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxxx x xxxxxxx:
Xx = X1x N1 / xx, (8)
xxx
Xx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx pole xx xxxxxx,
X1x je amplituda xxxxxxxxxxxxx xxxxxx v xxxxxx primárního xxxxxx
xx xxxxxxxx efektivní xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx
X1 xx xxxxxxx xxxxx xxxxxx primárního xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx
Xxxxxxx 2
Xxxxxxxxxxx xxxx xxx amplituda xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx pole xxxxxx xxxxxxx střední xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx x sekundárním xxxxxx xxxxxxxx indukčnosti XX, jejíž xxxxxxxx xxxxxx xx zapojeno x xxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx Epsteinova xxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxx 3. Xxx xxxxxxx xxxx xxxxxx xx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx XXx xxxxxxxxxxxx, xxxxxx xxxxxx musí xxx pouze xxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxx xxxxxxx. Xxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxx x xxxxxx XXx lze xxxxxx voltmetr měřící xxxxxxxxxx xxxxxx Epsteinova xxxxxxxxx x xxxxxxxx, xxx je xxxxxxxxxx xx xxxxxxx 3.
Xxxxxxxxx xxxxxxxxx magnetického pole xx xxxxxxx x xxxxxxx
Xx = XXx [X1 / ( 4 f MD xx )] . (Xx + Xx) / Xx , (9)
xxx
XX je xxxxxxxx xxxxxxxxxx v xxxxxx xxxxx obr. 3 x X
Xx je xxxxxxx xxxxxxxxxx voltmetru xxxxxxx xxxxxxx x Ω,
Xx xx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx vinutí.vzájemné indukčnosti XX v Ω,
UDm xx střední xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx XX.
Xxxxxxx 3
2.2.2 Nápisy x značky
2.2.2.1 Xxxxxx xxxxxxx
Xxxxxxxxx nápisy x xxxxxx na xxxxxx xxxxxxx xxxx nahrazeny xxxxxxxxxx dokumentací, která xxxx xxx vypracována x xxxxx musí xxxxxxxxx
x) xxxxxx 'všech xxxxxxx x zařízení, xxxxx přísluší x xxxxxx xxxxxxx, x xxxxxxxx výrobců a xxxxxxxxx xxxxx x xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx x xxxxxx sestavy xxxxx xxxxx výrobce,
b) xxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx zapojení pro xxxxxxxxx druh xxxxxx, xxxxxxxxx xxxxxx a xxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx,
x) xxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxx x napájení (xxxxxxxxx napájení xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx, xxxxxx xxxxxx převodníkem xx xxxxxxx vzorkovacího xxxxxxxx, xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxx),
x) xxxxx x xxxxx xxxx xxxxxxx, xxx xxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxx x měřidel,
f) xxxxxx xxxxxxxxxxx vzorků,
g) xxxxxxxxxx xxxx ověřovací listy xxxxxxx, která xxxx xxxxxxxx měřicí sestavy, xxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx byly xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxxx list měřicí xxxxxxx při následném xxxxxxx,
x) xxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxx s xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxx x xxxxxx xxxxxxx.
2.2.2.2 Xxxxxxxxx xxxxxxxx
Xxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx. Xxxxxxxxxx se xxxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx X, X, X, X. Xx Epsteinově přístroji x x xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxx xxx xxxxxxx počty xxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx xxxxxx.
2.2.2.3 Etalonové xxxxxx
Xxxxxxxxx vzorek musí xxx označen evidenčním xxxxxx nebo xxxxxxx, x to xxxxxxx, xxxxxxx a xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxx na xxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx vzorku.
Všechny xxxxx xxxxxxxxxxx vzorku xxxx xxx xxxxxxxx xxx, xxx jejich xxxxxxx x Epsteinově xxxxxxxxx xxxx xxxxx xxxxxxx xxxxxxxx.
Xx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx evidenční xxxx, xx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxx:
x) xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx,
x) xxxx x xxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxx xxxxxx,
x) hustota xxxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxx,
x) xxxxx xxxxx vzorku,
g) tloušťka, xxxxx x xxxxx xxxxx xxxxxx.
Xxxxx xxxx xxxxxxx xxxxx, xxxxx xxxx být xxxxxxx x xxxxxxxxxx xxxxx, xxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxx vzorku, xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxx xxxx.
3 SCHVALOVÁNÍ XXXX
3.1 Xxxxxx xxx xxxxxxxxxxx typu
3.1.1 Xxxxxxxxx xxxxxxxxx
Xxxxxxxxxx xxxxx xx základě xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx1) xxxxxxxx, xxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx splňuje xxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx, xxxxxxxx x pokračování xxxxxxx xxxx xxxx xxxxx na negativní xxxxxxxx xxxxxxx.
3.1.2 Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx vzorků xxxxxxxxx
3.1.2.1 Žadatel xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx 2 xxxx etalonových xxxxxx xxxxxxxxxxxxxx ke xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx. Xxxx vzorky xxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxx x xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx rozsah hmotností x xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx měřených zkoušenou xxxxxx xxxxxxxx, x xxxxx rozsahu xxxxxxx xxxx. Xxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxx 2.2.1.2 x 2.2.2.3. X xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx listů xxxxxx xxxxxxxxx předchozí xxxxxxxxx xxxxx xxxxxx. X xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxx být přiloženy xxxxxxxx x protokoly xxxxxx xxxxxx zkoušenou xxxxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxx prováděných xxxxxxx xx xxxxxx než 3 xxxxxx xx xxxx doručení.
3.1.2.2 X xxxxxxxxxx xxxxxx se xxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxx xxxxxx x xxxxxxxxxxx charakteristika xxxxx xxxx 2.2.1.3. X změřenému xxxxxx xx vystaví xxxxxxxxx xxxx, xxx se xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx x opakovaných xxxxxx.
3.1.2.3 Xxxxxxxx xx xxxxxxxxx rozdíly xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx (příslušejících xx xxxxxxxx měřicí sestavě) xxxxxxxxx xxxxxx sestavou x etalonovou měřicí xxxxxxxx v %
δxx = (p1i - x2x) . 100 / x2x , (10)
xxx
x1x xx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxx i-té xxxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx (xxxxxxxx měření xxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx),
x2x xx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxx i-té xxxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx (výsledky xxxxxx uvedené ve xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx).
Xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx měrných xxxxx δxx xxxxxxxx x xxxxx xxxx xxxxxxx musí být xxxxx xxx 3 % pro vzorky x xxxxxxxxxxxxx materiálu xxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx do 1,7 X a xxx xxxxxx x neorientovaného xxxxxxxxx pro xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx do 1,5 X.
3.1.2.4 Xxxxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx amplitudové xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorků (příslušejících xx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) xxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx x xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx v % jako minimální xxxxxxxxx xxxxxxxxxxx x-xxxx xxxx (Xx ,Hi) xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxx měřením xxxxxxxxx měřicí sestavou xx xxxxxxxxxxxxxxx určené xxxxxxx téhož etalonového xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx podle xxxxxxx (11), (12) nebo (13):
δxx = δXx . 100 / √ {1 + [(Xx / Bi) . (dB / xX)x ]2} = ΔXx . 100 / √ {Bi2 + [Hi . (xX / dH)i]2} (11)
δxx = δXx . 100 / √ {1 + [(Xx / Hi) . (xX / xX)x-1]2} = ΔHi . 100 / √ {Xx2 + [Xx . (xX / xX)x-1]2} (12)
δxx = δXx . |δXx| . 100 / √ (δBi2 + δXx2 ) = ΔBi . |ΔXx| . 100 / √ (ΔXx2 . Xx2 + ΔXx2 . Xx2) (13)
xxx odmocniny xx xxxxx xxx kladné x kde
δBi = (Xx - Bi´) / |Xx| = ΔXx / |Xx|, (14)
ΔXx = Bi - Xx´, (15)
δHi = (Xx - Xx´) / |Xx| = ΔHi / |Xx|, (16)
ΔXx = Xx - Hi´, (17)
(xX / dH)i xx xxxxxxxx tečny xxxxxx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx vzorku xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx v xxxx (Hi, Xx´),
Xx x Xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xxxx. xxxxxxxxxx xxxxxxx x-xxxx xxxx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx zkoušenou měřicí xxxxxxxx,
Xx´ xx hodnota xxxxxxxxxx xxxxxxx odečtená xx xxxxxxxxxxxxxxx měřené xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxx Hi,
Hi´ xx xxxxxxx intenzity xxxxxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx sestavou xxx hodnotu Bi.
Relativní xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx δai musí xxx xxxxx xxx 4 % pro xxxxxxx body xxxxxx xxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxx xxxx xxxxxxx.
3.1.3 Prohlídka zkoušené xxxxxx xxxxxxx
Xxxxxx prohlídka x xxxxxxxx předepsané xxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx x místě xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx sestavy. Xxx xxxxxx prohlídce xx xxxxxxxxxx
x) xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxx xxxxxxxxxx poškozena,
b) xxxxxx xxxxxxx musí xxxxxxxx x měřidel, etalonů x součástí xxxxxxxxx x dokumentaci,
c) xxxxxxxxxx xxxxxxx a xxxxxxxx xxxx xxx x xxxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxx pro příslušný xxxx xxxxxx,
x) xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxx 2.2.2.
3.1.4 Xxxxxxx xxxxxxx vzorků xxxxxxxxx
Xxx xxxxxxx měřením xxxxxx xx xxxx xxxxxxxxx xxxxxx (xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) xxxxxxxxxxxx metrologického xxxxxx v jeho xxxxxxxxxxx zkoušenou xxxxxx xxxxxxxx ve xxxxx x xxxxx 3.1.2.
3.1.5 Xxxxxxxxxxx protokolu o xxxxxxxxx zkoušce
Protokol o xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxx x výsledky xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2 , 3.1.3 a 3.1.4, xxxxx musí xxx xxxxxx xxxxxxxx. Dále xxxxxxxx popisy, xxxxxxx x xxxxxxxx xxxxx xxx xxxxxxxxxxxx xxxx x xxxxxxxxx xxxx xxxxxx.
3.2 Xxxxxxxxxx schválení xxxx
Xxxxxxxxxxx certifikátu xxxxxxxxx xxxx stanoví zvláštní xxxxxx předpis2).
4 XXXXXXXXX
Xxxxxxx x xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2, 3.1.3. a 3.1.4. Xxxxx xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx zkoušek xxxxxx a měřicí xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxx, xxxxxxx se xxxxxxxxx xxxx a xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxx xxxxxx xxxxxxx3).

Informace
Právní xxxxxxx x. 71/2004 Xx. xxxxx xxxxxxxxx xxxx 1.3.2004.
Xx xxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx nebyl xxxxx xx xxxxxxxxx.
Xxxxxx xxxxxxx x. 71/2004 Xx. xxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx č. 259/2007 Sb. x xxxxxxxxx xx 1.1.2008.
Xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx právních xxxxxxxx x xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxxxxxx, xxxxx xx xxxx xxxxxx derogační xxxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxx předpisu.
1) §1 xxxx. 2 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx., xxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx a xxxxxx, xx xxxxx vyhlášky x. 344/2002 Sb.
2) §3 xxxxxxxx č. 262/2000 Xx.
3) §6 xxxxxxxx č. 262/2000 Xx.