Animace načítání

Stránka se připravuje...


Na co čekáte? Nečekejte už ani minutu.
Získejte přístup na tento text ještě dnes. Kontaktujte nás a my Vám obratem uděláme nabídku pro Vás přímo na míru.

Právní předpis byl sestaven k datu 30.12.2007.

Zobrazené znění právního předpisu je účinné od 01.03.2004 do 30.12.2007.


Vyhláška, kterou se stanoví požadavky na měiící sestavy s Epsteinovým přístrojem pro měření magnetických vlastností plechů pro elektrotechniku

71/2004 Sb.

71
XXXXXXXX
xx dne 3. xxxxx 2004,
xxxxxx xx xxxxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx x Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxx měření xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxx xxxxxxxxxxxxxxx
Xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx a obchodu xxxxxxx xxxxx §27 xxxxxx č. 505/1990 Xx., x xxxxxxxxxx, xx znění xxxxxx x. 119/2000 Xx. x zákona x. 137/2002 Sb., (xxxx xxx "xxxxx") x xxxxxxxxx §6 xxxx. 2 a §9 xxxx. 1 xxxxxx:
§1
Xxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx x Epsteinovým xxxxxxxxxx xxx měření xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx plechů xxx xxxxxxxxxxxxxxx (xxxx xxx "xxxxxx xxxxxxx"), xxxxxx xxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx x xxxxxx xxx xxxxxx ověřování.
§2
Xxxxxxxxxxxx, xxxxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx, jakož x xxxxxx xxx schvalování xxxx xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx při xxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx v příloze.
§3
Tato xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxx 1. března 2004.
Xxxxxxx:
Xxx. Urban v. x.

Xxxxxxx x xxxxxxxx x. 71/2004 Sb.
1 XXXXXXXXXXXX
1.1 Měřicí sestava xx používá pro xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx x xxxxxxx ztrát xxxxxx pro xxxxxxxxxxxxxxx. Xxxxxx se z xxxxxxxxx a xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxx xxxxxxx 1 xx 3 x xxxxxxxxxxxxxxx x xxxx 2.
1.2 Etalonový xxxxxx xxx Epsteinův xxxxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxxxx xxxxxxx je xxxxxx xxxxxxxxx požadavky xxxx xxxxxxxx x xxxxxxxxx výhradně x xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx měřicí xxxxxxx.
1.3 Xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx podle xxxx 1.1, která xx x držení xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx, je xxxxxxxxxx xxxxxxxxx a prostřednictvím xxxxxxxxxxx vzorků xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx.
1.4 Xxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx v xxxxxxx xxxxxx vztažené x xxxxxxx hmotnosti xxxxxx.
1.5 Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx je xxxxxxxxx xxxxxxxxx magnetické xxxxxxxxxx xx xxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxx.
2 POŽADAVKY XX XXXXXX SESTAVY
2.1 XXXXXXXXXXXX XXXXXXXXX
Xxxxxx sestava xx xxxxxx z xxxxx, xxxxx xxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxx
x) Xxxxxxxxx xxxxxxxx specifikovaný x bodu 2.2,
b) xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,1 % xxxx menší,
c) xxxxxxxx střední hodnoty xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx měřící x xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx,
x) měřidlo xxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,5 % xxxx xxxxx při xxxxxxxxx xxxxxx a xxxxx faktoru, xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx obvodu xxxxxxx xxxxxx musí být xxxxxxx 5000xxxx xxxxx xxx jeho xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxx xxxxxxxxx měřící x xxxxxx 0,5 % xxxx menší xx spojení x xxxxxxx s xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx (xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx s xxxxxxx xxx použít xxxxxxxxx indukčnost x xxxxxxxxxxx povoleným xxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx x s hodnotou xxxxxx x xxxxxx 0,2 % xxxx xxxxx spolu x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx x xxxxxxxxxx xxxxxxx hodnoty),
g) xxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxx a vysokou xxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxxx, xxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxxx xxxxx xxx xxxxx než 0,2 % použité xxxxxxx. Xxx xxxxxx xxxxxxx ztrát xxxx xxx zajištěn xxxxxxx xxxxx sekundárního napětí 1,111 ± 1%.
Součástí xxxxxx xxxxxxx jsou xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx , které xxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx odpovídat vzorkům, xxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxxx měřeny. Xxxx xxxxxx muší xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx 2.2.
2.2 XXXXXXXXX XXXXXXXXX
2.2.1 Konstrukce
2.2.1.1 Xxxxxxxxx xxxxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxxxx se xxxxxx xx čtyř xxxxx, xx xxxxxxx xx vkládají xxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxx. Xxxxxx cívek jsou xxxxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxxxx materiálu, xxxx xxxxxxxxxxx průřez s xxxxxxx šířkou 32 xx. Doporučovaná xxxxxxx xxxxx xx 10 xx. Xxxxx jsou xxxxxxxx xx xxxxx x xxxxxxxxxx a xxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx, xx xxxxx čtverec. Xxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xx (220 +1 -0) xx.
Xxxxx cívka xx xxx xxxxxx -. xxxxxx primární xxxxxx x vnitřní sekundární xxxxxx. Xxxx xxxx xxxx xxx elektrostatické xxxxxxx. Vinutí musí xxx navinuto rovnoměrně xx xxxxx 190 xx, xxxxx xxxxx xx jednu xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxx. Xxxxxxxx vinutí xxxxx xxxxx je xxxxxxx xxxxxxx, xxxxxx xx xxxxxxx spojeno sekundární xxxxxx všech xxxxx. Xxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxx, xxx obvykle xx 700 pro xxxxxxx xxx xxxxxxxxx 50 Xx.
X xxxxxxxxxxx xxxxxxx vlivu impedancí xxxxxx musí tyto xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxxxxxxx:
X1/X12 ≤ 1,25 .10-6 Ω , X2/X22 ≤ 5 .10-6 Ω, (1)
L1/N12 ≤ 2,5 . 10-9 H, X2/X22 ≤ 2,5 . X0-9 X , (2)
xxx R1 a X2 jsou xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxx. xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X1 x X2 xxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxx. sekundárního xxxxxx,
X1 x X2 jsou xxxxxxx počty xxxxxx xxxxxxxxxx a xxxxxxxxxxxx xxxxxx.
Xxxxxxxxx přístroj xxxx xxx kompenzován x xxxxxxx xx xxxxxxxxxx xxx xxxxxxxx. Xx xxx účelem xx xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxx Epsteinova xxxxxxxxx xxxxxxxx cívka xxxxxxxx xxxxxxxxxxx, její osa xx kolmá x xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx. Xxxxxxxx vinutí xxxx xxxxxxxxxxx cívky xx xxxxxxxx x xxxxx x primárním vinutím Xxxxxxxxxx přístroje x xxxxxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxx v xxxxx xx xxxxxxxxxxx vinutím Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx, xxx xxxxxxxxxx xxxxxx x těchto sekundárních xxxxxxxx xxxx opačné xxxxxxxx. Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx vzájemné xxxxxxxxxxx xx takové, xx xxx xxxxxxxx střídavého xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxxx Epsteinově xxxxxxxxx (vzorek xxxx xxxxxx) xxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxx než 0,1 % napětí xx xxxxxxxxxxx vinutí xxxxxxxxxxxxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx.
2.2.1.2 Xxxxxxxxx xxxxxx
Xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxx Epsteinův xxxxxxxx (xxxx xxx "xxxxxxxxx xxxxxx"). Xxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx xxxx xxxxxx sestavou xxxxx xxxxxx.
Xxxxxxxxx vzorky jsou xxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxxx xxxxx. Pásky xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxx, xxxx xxxxxxxx xxx, xxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxxx okrajů x pokud xx xx xxxxxxxxxxxxx, jsou xxxxxxx xxxxxxxxxx. Pásky xxxx xxx xxxxx, xxx xxxxx x xxxxxx nečistot. Xxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx:
xxxxx 30 xx ± 0,2 mm, xxxxx je xxxxx xxxx xxxxx 280 xx x menší xxxx rovna 320 xx.
Xxxxx xxxxx xxxx xxx xxxxxx s xxxxxxxxx ± 0,5 xx. Xxxx jsou xxxxx xxxxxxxx rovnoběžně xxxx xxxxx se xxxxxx válcování, okraje xxxxxxxxxx pásu xxxx xxxxxx xxxx brány xxxx xxxxxxxxxx směr. Xxxxx'xxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx musí xxx směr delší xxx xxxxx xxxxxxx xx směru xxxxxxxxx xxxxxxx o ± 1°. X xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx musí xxx xxxxxxxx xxxxx xxxx delší xxx xxxxxx xx směrem xxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx ± 5° x xxxxx xxxxxxxx xxxxx xx xxxx xxxxx xxx xxxxx xx směr válcování x xxxxxxxxx nejvýše ± 5°. Xx xxxxxx xxxxx xxxx xxx patrný xxxx xxxxxxxxx. Xxxxx s xxxxx xxxx ve xxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxx Epsteinova xxxxxxxxx x pásky x xxxxx xxxx xxxxxx xx xxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxx xxxxx.
Xxxxx xxxxx vzorku je xxxxxxxxx xxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx nejméně 240 x xxx xxxxxx xxxxxx 280 xx.
Xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xx xx xxxxxxxxx xxxxxxx 0,94 x. Aktivní xxxxxxxx xxxxxx xx xx xxxx xxxxxxx
xx = x . xx / 4x, (3)
xxx
x je xxxxx xxxxx xxxxxx x x,
xx xx xxxxxxxxx xxxxx magnetického obvodu 0,94 x,
x xx xxxxxxx hmotnost xxxxxx x xx,
xx je xxxxxxx hmotnost xxxxxx x xx.
2.2.1.3 Xxxxxx xxxxxxx
2.2.1.3.1 Měřicí sestava xxx měření měrných xxxxx
Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxxxx na xxxxxxx 1. Xxxxxxxxxxx proud xx xxxxxx xxxxxxxx, xx xx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx |U2m| xx sekundárním xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx. Přičemž xx ampérmetrem sleduje xxxxxxx magnetovačího xxxxxx, xxx proudový xxxxx xxxxxxxxx nebyl xxxxxxxx. Xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx podle
IU2mI = 4 ƒ X2 X Ja Xx / (Xx + Xx), (4)
kde
|U2m| xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx ve X,
ƒ xx xxxxxxxxx x Xx,
X2 xx xxxxxxx počet xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx,
X xx xxxxxx xxxxxx x x2,
Xx xx amplituda xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx x X,
Xx xx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx x Ω,
Xx xx součet xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx,
Xxxxxx xxxxxx se vypočte x rovnice
A = x / (4 x ρx) , (5)
xxx
X je xxxxxx xxxxxx xx xxxxxxxxxxx x,
x xx xxxxxxx xxxxxxxx vzorku x xx,
x xx xxxxx xxxxx xxxxxx v x,
ρx xx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x kg/m3.
Obrázek 1
Xxxxxxxxx x primárním obvodu xx xxxxxxxx x xxxxxx xx xxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xx xxxxxxxxxxx hodnotu. Podílem xxxxxxx xxxxxxx a xxxxxxxxx hodnoty xxxxxxxxxxxx xxxxxx se xxxxxxx xxxxxxx tvaru xxxxxxxxxxxx xxxxxx, který xxxx xxx 1,111±1%.
X údaje xxxxxxxxx se xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx Xx xxxxx
Xx = Xx X1 / N2 - (1,111|X2x|)2 / Xx, (6)
xxx
Xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xx X,
Xx xx výkon změřený xxxxxxxxxx ve X,
X1 xx celkový počet xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx,
X2 xx celkový xxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx
Xx xx xxxxxxx ekvivalentní xxxxxxxxxx přístrojů x xxxxxxxxxxx obvodu x Ω
|X2x| xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx ve V.
Měrné xxxxxx Ps xx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx
Xx = Xx / xx = (Pc / xx) . (4x / xx), (7)
xxx
Xx xxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxx xx X/xx,
x xx xxxxx pásku xxxxxx x x,
xx je xxxxxxxx xxxxxxxxx délka xxxxxxxxxxxx obvodu x x (lm = 0,94 x),
x je xxxxxxx hmotnost xxxxxx x xx,
xx xx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx x xx,
Xx xxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxx xx W.
2.2.1.3.2 Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx
Xxxxxx xxxxxxx xxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx je xxxxxxxx podle xxxxxxxx xx obrázku 2 xxxx xx obrázku 3. Před měřením xxxxxxxxxxx charakteristiky xx xxxx vzorek xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxx xxxxxx, xxxxx xxxxxxxx nasycené magnetické xxxxxxxxxx xx xxxxxx, x xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx snižováním do xxxxxx xxxxxxx.
Xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx Xx se xxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx usměrněného xxxxxx xxxxxxxxxxxx x sekundárním xxxxxx podle xxxxxx (4).
Xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx ve xxxxxx Xx xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx primárního xxxxxx I1a, xx xx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx X1x na xxxxxx X x xxxxxxxx xxxxx xxxxxxx 1. Xxxxx X1x = U1a / X. Xxxxxxxxx intenzity xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxxx x rovnice:
Ha = X1x N1 / xx, (8)
xxx
Xx xx amplituda intenzity xxxxxxxxxxxx pole xx xxxxxx,
X1x je amplituda xxxxxxxxxxxxx proudu v xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx
xx xxxxxxxx efektivní délka xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx
X1 xx celkový počet xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx Xxxxxxxxxx přístroje
Obrázek 2
Xxxxxxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx usměrněného napětí xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxxxxx XX, xxxxx xxxxxxxx xxxxxx je zapojeno x sérii x xxxxxxxxx vinutím Epsteinova xxxxxxxxx v xxxxxxxx xxxxx schématu xx xxxxxxx 3. Při xxxxxxx xxxx metody xx nezbytné xxxxxxxxxxx xxxx časového průběhu xxxxxx UDm xxxxxxxxxxxx, xxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxx xxx xxxxxxxx nulovou xxxxxxxx xxxxx jedné xxxxxxx. Xxxx xxxxxxxx střední xxxxxxx xxxxx x xxxxxx XXx xxx xxxxxx voltmetr měřící xxxxxxxxxx napětí Epsteinova xxxxxxxxx x přepínač, xxx xx znázorněno xx xxxxxxx 3.
Xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxx xx xxxxxxx x xxxxxxx
Xx = UDm [X1 / ( 4 x XX xx )] . (Xx + Xx) / Xx , (9)
xxx
XX xx xxxxxxxx xxxxxxxxxx v xxxxxx xxxxx xxx. 3 x X
Xx xx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx x Ω,
Xx je resistance xxxxxxxxxxxx xxxxxx.xxxxxxxx xxxxxxxxxxx XX v Ω,
UDm xx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx XX.
Xxxxxxx 3
2.2.2 Nápisy x xxxxxx
2.2.2.1 Xxxxxx xxxxxxx
Xxxxxxxxx xxxxxx x xxxxxx xx xxxxxx xxxxxxx xxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx, xxxxx xxxx být xxxxxxxxxxx x xxxxx xxxx xxxxxxxxx
x) xxxxxx 'xxxxx xxxxxxx x xxxxxxxx, xxxxx xxxxxxxx x xxxxxx xxxxxxx, x xxxxxxxx xxxxxxx a xxxxxxxxx čísel x xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx x měřicí xxxxxxx xxxxx xxxxx xxxxxxx,
x) xxxxxxxx a xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxxxx druh měření, xxxxxxxxx xxxxxx a xxxxxx x xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx sestavy,
c) xxxxxxx popisy xxxxxxx xxxxxx x xxxxxxxx (xxxxxxxxx napájení xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx, xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxx xx základě xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx, využití xxxxxxxx xxxxxxxx),
x) dolní x xxxxx xxxx xxxxxxx, xxx xxxxxxx xxxx xxxxxx sestava používána,
e) xxxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxx x měřidel,
f) seznam xxxxxxxxxxx vzorků,
g) xxxxxxxxxx xxxx xxxxxxxxx listy xxxxxxx, xxxxx jsou xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx, xxxxx kalibrace xxxx xxxxxxx byly xxxxxxxxx,
x) xxxxxxxxx list měřicí xxxxxxx xxx následném xxxxxxx,
x) kniha xxxxxxx xxxxx xxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxx x měřicí xxxxxxx.
2.2.2.2 Xxxxxxxxx přístroj
Cívky Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx musí xxx xxxxxxxx. Xxxxxxxxxx xx xxxxxxxx ve xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx A, X, X, X. Xx Xxxxxxxxxx přístroji x v dokumentaci xxxxxx xxxxxxx xxxx xxx xxxxxxx xxxxx xxxxxx primárního x xxxxxxxxxxxx xxxxxx.
2.2.2.3 Etalonové xxxxxx
Xxxxxxxxx vzorek xxxx xxx označen xxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxxxxxx, x xx xxxxxxx, xxxxxxx x xxxxxxxxxxxxx xxxxxxxx na xxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx.
Xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx xxx, aby xxxxxx xxxxxxx v Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxx xxxxxxx xxxxxxxx.
Xx xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxx xxx xxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx, ve xxxxxx xxxx xxx uvedeno:
a) xxxxxxxxx xxxxxxxx etalonového xxxxxx,
x) xxxx x xxx xxxxxxxxx,
x) průřez xxxxxx,
x) xxxxxxx vzorku,
e) xxxxxxxx vzorku,
f) xxxxx xxxxx xxxxxx,
x) tloušťka, xxxxx x xxxxx xxxxx vzorku.
Pokud jsou xxxxxxx xxxxx, které xxxx být xxxxxxx x xxxxxxxxxx xxxxx, xxxxxxx v kalibračním xxxxx vzorku, xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx mít xxxxxxxxx xxxx.
3 XXXXXXXXXXX XXXX
3.1 Postup xxx schvalování xxxx
3.1.1 Xxxxxxxxx posouzení
Posuzující xxxxx xx xxxxxxx prostudování xxxxxxxxxxx1) zjišťuje, xxx xxxxxxxxxxx x xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxxxx, xxxxxxxx x pokračování xxxxxxx xxxx xxxx xxxxx na xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxx.
3.1.2 Xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx vzorků xxxxxxxxx
3.1.2.1 Xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxx orgánu nejméně 2 xxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx příslušejících ke xxxxxxxx měřicí xxxxxxx. Xxxx xxxxxx xxxx xxxxxxxx svou hmotností x svými magnetickými xxxxxxxxxxx rozsah xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxxx vlastností xxxxxx měřených zkoušenou xxxxxx sestavou, v xxxxx xxxxxxx xxxxxxx xxxx. Tyto etalonové xxxxxx musí splňovat xxxxxxxxx xxxxxxx x xxxx 2.2.1.2 x 2.2.2.3. X xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxx xxx xxxxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx listů xxxxxx xxxxxxxxx předchozí ověřovací xxxxx xxxxxx. X xxxxxxxxx etalonovým xxxxxxx xxxx xxx přiloženy xxxxxxxx x protokoly xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx sestavou x xxxxxxxxx prováděných xxxxxxx xx xxxxxx xxx 3 měsíce do xxxx doručení.
3.1.2.2 U xxxxxxxxxx xxxxxx se xxxxx xx etalonové xxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxx xxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxx xxxx 2.2.1.3. X xxxxxxxxx vzorku xx xxxxxxx ověřovací xxxx, kde se xxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxx x xxxxxxxxxxx xxxxxx.
3.1.2.3 Xxxxxxxx se xxxxxxxxx rozdíly xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx (příslušejících ke xxxxxxxx xxxxxx sestavě) xxxxxxxxx xxxxxx sestavou x etalonovou xxxxxx xxxxxxxx x %
δpi = (x1x - x2x) . 100 / p2i , (10)
xxx
x1x xx xxxxxxxxxxx xxxxx měření x-xx xxxxxxx měrných xxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx (xxxxxxxx xxxxxx zaslané xx xxxxxxxx xxxxx x xxxxxxxxxxx vzorky),
p2i xx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxxxx i-té xxxxxxx xxxxxxx xxxxx etalonovou xxxxxx xxxxxxxx (xxxxxxxx xxxxxx uvedené xx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx listě).
Hodnoty xxxxxxxxxxx rozdílů xxxxxxx xxxxx δxx xxxxxxxx x rámci xxxx xxxxxxx xxxx xxx xxxxx xxx 3 % xxx vzorky x orientovaného xxxxxxxxx xxx xxxxxxx magnetické xxxxxxxxxx xx 1,7 X x pro xxxxxx x xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx xx 1,5 T.
3.1.2.4 Xxxxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxx amplitudové charakteristiky xxxxxxxxxxx xxxxxx (xxxxxxxxxxxxxx xx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx a xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx v % xxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxx i-tého xxxx (Xx ,Xx) xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx sestavou xx xxxxxxxxxxxxxxx určené xxxxxxx xxxxx etalonového xxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx podle xxxxxxx (11), (12) xxxx (13):
δxx = δBi . 100 / √ {1 + [(Xx / Bi) . (xX / xX)x ]2} = ΔXx . 100 / √ {Bi2 + [Hi . (xX / dH)i]2} (11)
δxx = δXx . 100 / √ {1 + [(Xx / Xx) . (dB / xX)x-1]2} = ΔXx . 100 / √ {Xx2 + [Xx . (dB / dH)i-1]2} (12)
δxx = δXx . |δXx| . 100 / √ (δXx2 + δHi2 ) = ΔBi . |ΔXx| . 100 / √ (ΔXx2 . Xx2 + ΔXx2 . Xx2) (13)
xxx xxxxxxxxx se xxxxx xxx xxxxxx x xxx
δXx = (Xx - Xx´) / |Xx| = ΔXx / |Bi|, (14)
ΔXx = Xx - Bi´, (15)
δHi = (Xx - Xx´) / |Hi| = ΔHi / |Xx|, (16)
ΔHi = Xx - Xx´, (17)
(xX / xX)x xx směrnice tečny xxxxxx xxxx měřením xxxxxxxxxxx xxxxxx etalonovou xxxxxx sestavou x xxxx (Xx, Bi´),
Hi x Xx xxxx xxxxxxx xxxxxxxxx magnetického xxxx resp. xxxxxxxxxx xxxxxxx i-tého bodu xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxx,
Xx´ xx xxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx měřicí xxxxxxxx xxx xxxxxxx Hi,
Hi´ xx xxxxxxx intenzity xxxxxxxxxxxx pole xxxxxxxx xx xxxxxxxxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxxx měřicí sestavou xxx xxxxxxx Xx.
Xxxxxxxxx xxxxxxx měření amplitudové xxxxxxxxxxxxxxx δxx xxxx xxx xxxxx než 4 % xxx xxxxxxx xxxx xxxxxx xxxxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxx x xxxxx xxxx xxxxxxx.
3.1.3 Xxxxxxxxx zkoušené xxxxxx sestavy
Vnější prohlídka x xxxxxxxx xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxx x xxxxx xxxxxxx xxxxxxxx xxxxxx sestavy. Xxx xxxxxx xxxxxxxxx xx xxxxxxxxxx
x) xxxxxx xxxxxxx nesmí být xxxxxxxxxx xxxxxxxxx,
x) xxxxxx xxxxxxx xxxx sestávat x xxxxxxx, etalonů x xxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxxxx,
x) uspořádání xxxxxxx x xxxxxxxx xxxx být x xxxxxxx xx xxxxxxxxx xxxxxxxx xxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxx,
x) xxxxxxx xxxxx dokumentů požadovaných x bodu 2.2.2.
3.1.4 Xxxxxxx xxxxxxx xxxxxx xxxxxxxxx
Xxx zkoušce xxxxxxx xxxxxx se měří xxxxxxxxx vzorky (xxxxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx) xxxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxxxxx xxxxxx x jeho xxxxxxxxxxx zkoušenou xxxxxx xxxxxxxx xx xxxxx x xxxxx 3.1.2.
3.1.5 Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx
Xxxxxxxx x xxxxxxxxx zkoušce obsahuje xxxxx a výsledky xxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2 , 3.1.3 x 3.1.4, xxxxx xxxx xxx xxxxxx výsledek. Dále xxxxxxxx popisy, xxxxxxx x xxxxxxxx xxxxx xxx xxxxxxxxxxxx xxxx x objasnění xxxx xxxxxx.
3.2 Xxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx
Xxxxxxxxxxx xxxxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxx xxxxxxx zvláštní xxxxxx xxxxxxx2).
4 XXXXXXXXX
Xxxxxxx x xxxxxxxx ověřování xxxxxxx xx xxxxxxx xxxxx xxxx 3.1.2, 3.1.3. a 3.1.4. Xxxxx je xxxxxxxx xxxxx těchto zkoušek xxxxxx x měřicí xxxxxxx xxxxxxx xxxxxxxxx xxxxxxxxx xxxxx vyhláškou, xxxxxxx xx xxxxxxxxx xxxx x xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xx xxxxxx úřední xxxxxxx3).

Xxxxxxxxx
Xxxxxx xxxxxxx x. 71/2004 Xx. xxxxx xxxxxxxxx dnem 1.3.2004.
Xx xxx xxxxxxxx xxxxxx xxxxxxx xxxxx xxxxx xx xxxxxxxxx.
Xxxxxx xxxxxxx x. 71/2004 Sb. xxx xxxxxx právním xxxxxxxxx č. 259/2007 Sb. x xxxxxxxxx od 1.1.2008.
Xxxxx xxxxxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxx xxxxxx xxxxxxxx předpisů x xxxxxxxx xxxx xxxxxxxxxxxxx, xxxxx xx xxxx netýká xxxxxxxxx xxxxx shora xxxxxxxxx xxxxxxxx xxxxxxxx.
1) §1 xxxx. 2 vyhlášky x. 262/2000 Xx., xxxxxx xx zajišťuje xxxxxxxxxx x xxxxxxxxx xxxxxxx a xxxxxx, xx znění vyhlášky x. 344/2002 Sb.
2) §3 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx.
3) §6 xxxxxxxx x. 262/2000 Xx.